Steinbeis-Transferzentrum Mikro-, Nano- und Zuverlässigkeitsanalytik

Profil
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Die Marke Steinbeis steht seit über 30 Jahren für erfolgreichen Wissens- und Technologietransfer. Wir bauen stabile Brücken zwischen Wissen und Anwendung, weil Steinbeis-Mitarbeiter in beiden Welten zuhause sind. Bei Steinbeis steht der konkrete Nutzen für den Kunden oder Partner im Fokus aller Projekte. Unser Verbund bietet Technologie- und Managementkompetenz aus einer Hand und in einzigartiger Bandbreite. Steinbeis ist Problemlöser und Dienstleister in Beratung, Forschung und Entwicklung sowie Aus- und Weiterbildung für Partner aus allen Bereichen und jeder Größe.

Forschungsschwerpunkt / Know-how

Rastersondenmikroskopie (SPM)

Rasterkapazitätsmikroskopie / spekroskopie (SCM / SSCS)

Kelvin-Probe-Force Mikroskopie (KPFM)

Scanning Thermal Mikroskopie (SThM)

Rasterelektronenmikroskopie (SEM)

Halbleiter-Messtechnik

Waverlevel - Zuverlässigkeitsanalytik

Waverlevel - Stress- und Messtechnik

Lock-In-Verstärkertechnik

Dünnschicht Charakterisierung

Ultraschall - Dünndrahtbonden

Mikro- und Nanoelektronik

Optoelektronik

Oberflächenanalytik

Angebote

Analyse-Dienstleistungen
Angewandte Forschung und Entwicklung
Training und Beratung
Seminare / Inhouse Fortbildung
Erstellung von Gutachten

Projektbeispiele

Kelvin-Probe-Force Mikroskopie an aktiven optoelektronischen Strukturen
2D-Dotierstoffmapping mit Rasterkapazitätsmikroskopie
Lokalisierung von pn-Übergängen mit Rasterkapazitätsspektroskopie
2D-Mapping dünner Dielektrika mittels Tunnelstromanalytik (Kontaktmodus)
Waferlevel Dünnoxid-Charakterisierung
Waferlevel Hot-Carrier-Charakterisierung
Rastersondenbasierte Nano-Scratch und Weartests an DLC-Schichten

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